概要

試料へX線を照射し、入射角度を変化させながら、回折強度を測定することで、試料の結晶構造を解析することができます。

主な仕様

• 最大出力：3 kW
• 検出器：シンチレーションカウンター、半導体1次元検出器、二次元検出器
• Cuターゲット ・試料水平配置