走査型電子顕微鏡(SEM) - 名古屋大学次世代バイオマテリアル拠点

走査型電子顕微鏡(SEM)

・電界放出形電子銃 
・二次電子分解能:1.0nm(15kV)、1.4nm(1kV) 
・倍率:×25~1,000,000 加速電圧:0.1~30kV 
・ジェントルビーム
・オプション:リトラクタブル反射電子検出器(RBEI)、エネルギー分散形X線分析装置(EDS)